X射線探測器(X-ray detector )是DR或CT成像的核心，將肉眼看不到的“X射線”轉(zhuǎn)換為圖像“數(shù)字化信號”。
一、Offset校正：
原因：探測器在暗場(沒有X射線照射)的情況下，由于光電二極管 (photodiode) 和薄膜晶體管 (Thin-Film-Transistor, TFT) 的漏電流以及數(shù)據(jù)采集電路中電荷放大器零點漂移的影響，探測器各像元仍有一定的輸出值，這就會導(dǎo)致探測器出現(xiàn)偏置誤差或系統(tǒng)誤差，造成探測器探元在亮場(有X射線照射)的條件下響應(yīng)不一致的情況。
矯正方法：在暗場的情況下，連續(xù)采集多幅圖像，并且把這些圖像疊加并平均處理;簡單的處理方法就是在采集圖像的時候，用采集到的圖像減去這張暗場平均圖像。
二、Gain校正：
原因：探測器在均勻強度X射線的照射下，存在像元響應(yīng)不一致性的情況，它與像元接收到的射線劑量到像元圖像灰度值轉(zhuǎn)換的整個過程有關(guān)。各像元對應(yīng)的射線可見光轉(zhuǎn)換、光電轉(zhuǎn)換及電荷放大程度各不相同。由于各探測器像元對均勻射線的響應(yīng)不一致性是隨機的, 因此, 在圖像上反映出灰度空間分布的隨機性。但是, 可以近似認(rèn)為各像元的響應(yīng)靈敏程度是固定不變的。
矯正方法：在探測器飽和所用劑量70%左右的X射線均勻照射下采集一幅圖像, 即亮場圖像。在采集校準(zhǔn)圖像時, 為消除隨機噪聲的影響, 一般應(yīng)該采取多幅疊加取平均的方式。用亮場圖像與暗場圖像相減, 得到的差值就是各像元在中亮場射線強度下的響應(yīng)。若采集多個射線劑量下的亮場圖像，則對于每一像元, 都可得到一條灰度值隨射線強度變化的響應(yīng)曲線, 也就可獲得圖像校正值隨原始灰度值的變化曲線，這種矯正方法與單射線能量下的亮場矯正相比效果更好。
三、Defective校正：
原因：壞像元是指不能依據(jù)射線強度做出合理響應(yīng)的像元, 或者說是響應(yīng)靈敏程度明顯有別于正常點的像元。按對射線響應(yīng)的靈敏程度來分，壞像元可以分為對射線響應(yīng)過于敏感的像元和過度遲鈍兩種。在探測器生成的原始圖像上，表現(xiàn)為星星點點散布著的亮點或黑點，甚至整條白線或黑線, 這些都是由壞像元引起的。
矯正方法：對壞像元的校正采用鄰域選擇性平均法，壞像元的校正輸出取其鄰域中正常像元的灰度平均值;除非位于傳感器陣列的邊緣, 每個像元有8 個相鄰像元。如果壞像元的相鄰像元中有3個以上是正常的，則相鄰正常像元的灰度平均值可作為該壞像元的灰度值;若相鄰像元中正常的像元少于 3個,則該壞像元不能被校正，圖像有可能失真。
